Mengukur Kinerja Cahaya Inframerah Dekat (NIR) untuk Pengenalan Wajah
Pengenalan wajah dengan cepat menjadi metode otentikasi biometrik yang disukai dengan meningkatnya permintaan yang datang dari aplikasi elektronik konsumen seperti ponsel pintar, laptop, dan tablet. Teknologi pengenalan wajah menggunakan cahaya inframerah-dekat (NIR), yang dihasilkan oleh LED dan laser, untuk memproyeksikan pola kisi atau titik yang tidak terlihat, yang dibuat menggunakan filter yang disebut elemen optik difraksi (DOE), ke wajah seseorang. Kamera NIR kemudian menangkap dan menganalisis pantulan pola kisi atau titik tersebut untuk mengetahui adanya deformasi guna membuat kontur 3D wajah seseorang yang akan digunakan untuk memverifikasi identitas pengguna.
Meskipun teknologi pengenalan wajah NIR 3D lebih akurat daripada teknik 2D (fotografi) sebelumnya, teknologi ini masih rentan terhadap masalah kinerja seperti titik emisi pada posisi yang salah, emisi keluaran rendah, atau intensitas sumber cahaya NIR yang tidak konsisten. Selain masalah kualitas dan kinerja, ada juga masalah keamanan pada cahaya NIR. Meskipun panjang gelombang NIR, berkisar antara 700 nm hingga 1500 nm, tidak terlihat, namun tetap dapat masuk ke mata kita dan menyebabkan kerusakan pada kornea dan retina setelah paparan yang lama. Desain dan pengujian yang cermat harus dilakukan untuk memastikan tingkat intensitas yang tepat dipancarkan guna mencegah bahaya bagi pengguna saat terpapar dalam jangka waktu lama.
Ketika mengukur sumber NIR, sistem pengukuran yang ideal harus mampu menangkap dan mengukur berbagai parameter seperti keseragaman dan distribusi emisi, posisi spasial, radiant flux, dan intensitas atau daya maksimum, di seluruh area distribusi.
Salah satu tantangan ketika mencoba mengevaluasi kinerja NIR adalah kesulitan dalam menangkap cahaya NIR dalam ruang sudut. Karena cahaya NIR memancarkan cahaya dalam ruang sudut 3D, setiap titik dalam pola DOE dapat bervariasi posisi atau intensitasnya bergantung pada sudut pancarannya. Untuk memastikan pola DOE diproyeksikan secara akurat dengan setiap titik memiliki intensitas yang memadai, pengukuran harus dilakukan pada setiap sudut emisi
Secara tradisional, sumber cahaya NIR diputar menggunakan goniometer dan fotodetektor untuk menangkap gambar emisi 2D di setiap sudut. Namun, metode ini memakan waktu karena diperlukan rotasi dalam jumlah besar untuk mendapatkan pengukuran sudut penuh. Selain itu, titik data sudut mungkin terlewatkan selama pengukuran goniometri antar rotasi.
Tantangan umum lainnya adalah kesulitan dalam mengevaluasi keakuratan pola titik DOE secara keseluruhan. Secara tradisional, DOE menghasilkan pola yang dibandingkan dengan pola target atau koordinat di dinding atau layar untuk mengevaluasi emisi DOE. Metode ini membuktikan evaluasi lulus/gagal sederhana mengenai apakah polanya cocok tetapi tidak cukup dalam menyediakan data radiometrik (e.g., radiant intensity) dari titik emisi DOE.
Konica Minolta, bersama dengan Radiant Vision Systems, menyediakan solusi pengujian NIR komprehensif yang memberikan pengukuran distribusi intensitas radiasi NIR secara cepat dan akurat. Solusi pengujian NIR dilengkapi dengan Fotometer Pencitraan Seri Y ProMetric berbasis CCD dan Lensa Intensitas NIR yang memanfaatkan optik Fourier yang menghilangkan kebutuhan rotasi dengan menangkap semua data emisi sudut dari satu titik.
Bersama dengan perangkat lunak opsional TrueTest dan modul perangkat lunak TT-NIRI, solusi pengujian NIR mampu mengukur semua titik dalam pola DOE untuk memastikan bahwa pola berada pada posisi/sudut dan intensitas yang tepat. Selain itu, larutan uji NIR dapat mengukur parameter seperti puncak maksimum dan rata-ratanya, sudut padat puncak maksimum, keseragaman daya titik, fluks total, fluks DOE, dll.
Unduh lembar spesifikasi untuk mempelajari lebih lanjut tentang solusi pengujian NIR Radiant Vision Systems.
Dengan pesatnya adopsi perangkat yang memanfaatkan pemancar NIR untuk penginderaan 3D, muncul permintaan yang semakin besar akan metode inovatif dan efektif untuk memastikan akurasi dan kinerja. Baik Anda mencari informasi atau mencari solusi, lihat rangkaian solusi pengujian lanjutan kami untuk mengetahui lebih lanjut.
Butuh bantuan untuk menemukan instrumen dan solusi yang tepat untuk kebutuhan pengukuran Anda? Hubungi kami untuk mengatur konsultasi gratis dengan spesialis aplikasi kami.